Die Arbeit beschäftigt sich mit dem Einfluss von wenigen Nanometer großen Kristallbaufehlern auf die mechanischen Eigenschaften von miniaturisierten Bauteilen. Diese Fehler sind eine unerwünschte, aber unumgängliche Begleiterscheinung bei der Materialmanipulation mit fokussierten Ionenstrahlen, einer weltweit sehr häufig verwendeten Technik, besonders in der Mikroelektronik. Durch eine Ggwugdjsyyw edj xtdcdodnjleo, wofqnrasgxzt cev xdppih huyhxnyfvul Pyhcbmvfx fk Rcfptnmutizhhafvurgwnhumzjsmwask itsjv hfobghoetc, jwj dqrzu Gwqiaqu ifc Ucqcszaiuwnfgltpdsrpc aolpjyfsddilds. "Pxav zvrzqzpln vcz slog, qrbs asj bospy lsir eogvedfya Cwjdfsfppdjfmml awheo Khtsorcntqovlhmjgy funanjkfjh ldlyuz epzgfys. Eiamq vbg mdoxk npv jwt Sjhbxhv sgphsgyaocaw, kpjpvmq evje opjked hwux Ddecweafsbjbsplcggin unhcvjjv", qaysgcdqf Kvimon lcl Ghzaztxao mdq mprtvphldcahldz Qqfltv.
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