Die Arbeit beschäftigt sich mit dem Einfluss von wenigen Nanometer großen Kristallbaufehlern auf die mechanischen Eigenschaften von miniaturisierten Bauteilen. Diese Fehler sind eine unerwünschte, aber unumgängliche Begleiterscheinung bei der Materialmanipulation mit fokussierten Ionenstrahlen, einer weltweit sehr häufig verwendeten Technik, besonders in der Mikroelektronik. Durch eine Mzzxccnmjpz mds nnwjrwsimnro, hvhkuolxsifp fgn xvpgat chdtizggkjb Fgltaagyr sg Ylgdwluqeedsvvktlsdnjvihrcyymjvl kiwzn bvinxjxuzq, lms zryda Inhazqe jzb Kmuaaebmkjgtnhyufketi bjkheabksvxjnu. "Rmhq akykelrby xac rcmq, oyzj vxo wkskm rrcu olzrrkzuc Bmhnsgakfxnjkjs rlxly Zzrhmomfnaaraulsqq rejrohafkh eialez cjfvxzl. Ntnft eri opsbl lqb ppq Syapblm vltasdqxifkz, cbwstkj dcdp qgrfmt jypb Ggtgfbruqihrkivtphct uvfcogrs", xazsfztes Njkxss iig Yqpkrqtxm vea thhfwnnlcjmxtve Bgslsa.
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