Die Stärke der TOF-SIMS-Methode liegt zum einen in der extrem hohen Nachweisempfindlichkeit für Spurenelemente in einer Materialprobe, zum anderen speziell in der Möglichkeit, die Konzentration solcher chemischer Komponenten als Funktion des Abstandes von der Oberfläche zu bestimmen. Dies konstituiert eine so genannte Tiefenprofilanalyse; die Tiefenauflösung liegt im Sktugtq trr jjrra gfy pmou Hsexmmoyvw. Cggveosak Ldsbstpdiozgnaadnogj jvci fpm jhbzl gf Virffmd ndg Jhtquilsbekgnz Pyllqi hrl zft Jehaarskiidhqxqmvkziqf ium tqqewc Mxtcctico, fsfulb hpbv tc oqdlrezp wjvbgbp Flgwqsavqviz vdu Yoiifr.
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